总线电压的采集同样选用基于磁补偿原理的闭环霍尔电压传感器VSM025A，实现原理与电流采集相同。
1.3.2 中央处理模块实现
中央处理模块是测试系统的核心部分，包括MCU和AD单元、模拟信号二次调理单元、故障输出单元和CAN接口单元等，如图3所示。
采集模块输入的4mA～20mA电流信号首先经过模拟信号二次调理单元，进行信号的变送、隔离、滤波和放大。模拟信号的隔离方式很多，常用的方法为隔离放大器、线性光耦以及电压频率转化，其中隔离放大器和线性光耦隔离电压高，抗干扰能力强，线性度高，但线性光耦隔离线路复杂，需要调整的参数较多，并且当输入电压比较小时，线性度较差。故本文选用BB公司高精度ISO124U隔离运算放大器完成输入模拟信号的隔离，隔离后的信号经5阶Butterworth低通滤波MAX280电路过滤高频干扰，随后通过一射极跟随器送出。
二次调理后的采集信号，经过12位高速AD7891送至MCU。MCU对数据进行处理并将数据通过CAN接口传送到上位机。单片机选用STC系列8位高速单片机STC89C58RD+。该单片机具有强抗干扰性，4kV快速脉冲干扰(EFT)和高抗静电(ESD)，可通过6000V静电，很好地满足了超级电容高电压大电流的工作环境。该单片机可实现6时钟模式，在本系统采用24M晶振情况下，单片机工作频率可达到4MIPS，相当于普通51系列单片机运行速度的4倍。
另外，测试系统设置3通道故障诊断输出，能显示欠压、过压、过流等状态。测试系统与上位机采用抗干扰能力强、稳定性好的CAN通信方式，保证测试系统送入上位机数据的可靠性。
实际系统有模拟±15V，数字±5V，模拟±12V供电需求，电源管理模块在提供系统各部分所需电压的同时，进行模拟、数字电路隔离，从而避免两类电压互相影响。各部分电源入口都增加了TVS保护，防止浪涌电压对系统的损坏。同时在诸多电源入口处设置相应的滤波电路，如在AD供电入口处增加了π形滤波电路，较好地消除电源信号对所供电路的干扰。
另外，外部连线均采用屏蔽线，能较强地屏蔽线路传输中的电磁干扰。所有电流板使用型材铝盒包装，采用标准航空接头与外界联线，这样在保护电路板的同时隔离外界磁场。
2 测试系统实测结果对比及分析
2.1 测试内容
实验选定以70A和150A两种模式对两组串联的超级电容组件进行充放电测试。首先，对电容进行恒流充电，当总线电压达到300V时，转为恒压充电，当总线电流降低到10A时进行70A恒流放电，如此循环测试5个周期。
2.2 实验结果及分析
图4、图5、图6给出了两种情况下的测试曲线对比。其中，图4表示70A和150A两种标准测试情况下，电流的变化曲线。图5、图6表示两种情况下，电压曲线特性。可以看出两者的匹配程度很好。
电压测试精度高于电流测试精度，这是由于一方面充放电系统本身电压比电流控制精度要高，另一方面电流传感器安置在电容箱体内并且紧靠单体电容，电容充放电时产生的噪声干扰比较严重。同时，霍尔电流传感器孔径较大，穿过电流总线后仍有一定空隙，在一定程度上影响了测试精度。对比各组电流曲线，可以看出随着电流的增大，测试结果的相对误差减小，但绝对误差保持一致，不超过3A。
本文给出一种车载超级电容测试系统，该系统采用基于磁补偿原理的霍尔闭环电流、电压传感器采集总线信号，以抗高压脉冲干扰的STC51高速单片机进行信号处理，并采用仪用放大、电流传输、模拟信号隔离、5阶低通滤波等措施，尽可能地减少信号传输过程的噪音。通过对超级电容组件充放电测试，表明本系统具有抗干扰能力强、检测精度高等优点，能很好的满足车载超级电容高电压大电流环境下的测试要求。
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