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惠瑞捷针对成本敏感的集成电路推出新型测试系统V101


造车网 http://www.zaoche168.com/ 2009年07月17日

惠瑞捷半导体科技有限公司日前针对晶圆测试和时下对成本最为敏感的集成电路和微控制器的成品测试推出了一款新型测试系统V101V101满足了这些芯片的超低成本要求,以及缓解了日益增长的上市时间压力。

 

V101测试系统拥有多达1024个输入/输出通道,数字时钟频率高达100 MHz,其性能保证可以经济高效地测试目前对成本最为敏感的集成电路和微控制器,尤其是广泛应用于低端移动通信和消费类产品。

 

V101拥有独特的Tester-on-Board架构,可直接在测试板上布置数字直流资源,从而简化了测试仪硬件和配置。该架构支持高效率的多站点测试,数据吞吐量高,同时可降低测试成本,而标准化组件使得V101易于安装和维护。

 

V101可经济高效地测试4/8/16MCU和其他低管脚数低端IC芯片。该数字仪器卡拥有8DPS(设备电源),数字时钟频率高达100 MHz,深度的矢量内存(60M)和捕捉内存(8 M)满足了芯片生命周期短以及改版快的要求,低噪音水平提高了精确度和产出。板载多功能直流测量单元避免了对单独模拟卡的需求,支持嵌入式A/D转换器的测试,从而降低了成本。

 
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